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International Journal Of Numerical Modelling-electronic Networks Devices And Fie雜志影響因子查詢?nèi)肟冢?/h1>

《International Journal Of Numerical Modelling-electronic Networks Devices And Fie》雜志影響因子:1.6。

期刊International Journal Of Numerical Modelling-electronic Networks Devices And Fie近年評價數(shù)據(jù)趨勢圖

期刊影響因子趨勢圖

以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?

(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺,收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊,提供詳細的期刊引證報告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標。

(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。

(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。

《International Journal Of Numerical Modelling-electronic Networks Devices And Fie》雜志是由John Wiley and Sons Ltd出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國際優(yōu)秀期刊。

該雜志出版語言為English,創(chuàng)刊于1988年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學(xué)引文索引擴展板)等國內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實踐中的理論、研究和應(yīng)用。

?學(xué)術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q3區(qū),中科院分區(qū)為工程技術(shù)大類4區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類4區(qū)。

期刊發(fā)文分析

機構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計
機構(gòu) 發(fā)文量
NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SYST... 35
UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOL... 30
REYKJAVIK UNIVERSITY 17
GDANSK UNIVERSITY OF TECHNOLOGY 13
ISLAMIC AZAD UNIVERSITY 13
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQ... 11
TECHNICAL UNIVERSITY OF DARMSTADT 10
SORBONNE UNIVERSITE 9
TONGJI UNIVERSITY 9
UNIVERSITE DE TUNIS-EL-MANAR 9
國家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
國家 / 地區(qū) 發(fā)文量
CHINA MAINLAND 111
India 98
Iran 50
USA 32
France 28
Italy 26
GERMANY (FED REP GER) 22
Iceland 17
Turkey 17
Poland 14
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
IEEE T ELECTRON DEV 107
IEEE T ANTENN PROPAG 104
INT J NUMER MODEL EL 69
IEEE T MICROW THEORY 49
IEEE ANTENN WIREL PR 47
IEEE T POWER SYST 47
IEEE ELECTR DEVICE L 46
IEEE T POWER DELIVER 41
APPL MATH COMPUT 34
SOLID STATE ELECTRON 30
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
期刊被引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
INT J NUMER MODEL EL 69
IEEE ACCESS 26
IEEE T ANTENN PROPAG 22
APPL COMPUT ELECTROM 16
J ELECTROMAGNET WAVE 11
IEEE T MICROW THEORY 10
IEEE T ELECTRON DEV 9
INT J RF MICROW C E 9
ENERGIES 8
J COMPUT PHYS 8
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計
文章引用數(shù)據(jù) 引用次數(shù)
A physics-based threshold voltage model fo... 33
Cognitive health care system and its appli... 11
Design and analysis of multi-stage PID con... 9
Waveport modeling for the DGTD simulation ... 7
PSO-based SMC variable step size P&O MPPT ... 6
A scalable and multibias parameter extract... 6
Accurate and efficient analysis of the upw... 6
A nanoscale-modified junctionless with con... 5
Beam steering of eye shape metamaterial de... 5
Pattern search approach to ferromagnetic m... 5

International Journal Of Numerical Modelling-electronic Networks Devices And Fie雜志

International Journal Of Numerical Modelling-electronic Networks Devices And Fie

出版商:John Wiley and Sons Ltd

研究方向:工程技術(shù)-工程:電子與電氣

中科院分區(qū):4區(qū),JCR分區(qū):Q3

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