《Materials Science In Semiconductor Processing》雜志影響因子:4.2。
期刊Materials Science In Semiconductor Processing近年評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)趨勢(shì)圖
期刊影響因子趨勢(shì)圖
以下是一些常見(jiàn)的影響因子查詢?nèi)肟冢?
(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺(tái),收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊,提供詳細(xì)的期刊引證報(bào)告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。
(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個(gè)網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。
(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。
《Materials Science In Semiconductor Processing》雜志是由Elsevier Ltd出版社主辦的一本以工程技術(shù)-材料科學(xué):綜合為研究方向,OA非開(kāi)放(Not Open Access)的國(guó)際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語(yǔ)言為English,創(chuàng)刊于1998年。自創(chuàng)刊以來(lái),已被SCIE(科學(xué)引文索引擴(kuò)展板)等國(guó)內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點(diǎn)介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實(shí)踐中的理論、研究和應(yīng)用。
?學(xué)術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q2區(qū),中科院分區(qū)為工程技術(shù)大類(lèi)3區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類(lèi)3區(qū)。
期刊發(fā)文分析
國(guó)家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
國(guó)家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
CHINA MAINLAND | 376 |
India | 309 |
South Korea | 97 |
Turkey | 76 |
Mexico | 73 |
Japan | 71 |
Iran | 65 |
USA | 63 |
Saudi Arabia | 55 |
Italy | 48 |
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
APPL PHYS LETT | 835 |
J APPL PHYS | 647 |
J ALLOY COMPD | 478 |
APPL SURF SCI | 451 |
MAT SCI SEMICON PROC | 380 |
SENSOR ACTUAT B-CHEM | 366 |
RSC ADV | 326 |
THIN SOLID FILMS | 318 |
PHYS REV B | 289 |
J PHYS CHEM C | 286 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
J MATER SCI-MATER EL | 470 |
MATER RES EXPRESS | 446 |
MAT SCI SEMICON PROC | 380 |
J ALLOY COMPD | 269 |
CERAM INT | 226 |
APPL SURF SCI | 203 |
J ELECTRON MATER | 130 |
APPL PHYS A-MATER | 117 |
OPTIK | 112 |
RSC ADV | 106 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
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