《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志影響因子:5.6。
期刊Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement近年評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)趨勢(shì)圖
期刊影響因子趨勢(shì)圖
以下是一些常見的影響因子查詢?nèi)肟冢?
(1)Web of Science:是查詢SCI期刊影響因子的權(quán)威平臺(tái),收錄全球高質(zhì)量學(xué)術(shù)期刊,提供詳細(xì)的期刊引證報(bào)告,包括影響因子、分區(qū)、被引頻次等關(guān)鍵指標(biāo)。
(2)?Journal Citation Reports (JCR):JCR是科睿唯安旗下的一個(gè)網(wǎng)站,提供了期刊影響因子、引用數(shù)據(jù)和相關(guān)指標(biāo)。用戶可以在該網(wǎng)站上查找特定期刊的影響因子信息。
(3)中科院SCI期刊分區(qū)表:提供中科院分區(qū)的期刊數(shù)據(jù)查詢,包括影響因子和分區(qū)信息。
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社主辦的一本以工程技術(shù)-工程:電子與電氣為研究方向,OA非開放(Not Open Access)的國(guó)際優(yōu)秀期刊。
該雜志出版語言為English,創(chuàng)刊于1952年。自創(chuàng)刊以來,已被SCIE(科學(xué)引文索引擴(kuò)展板)等國(guó)內(nèi)外知名檢索系統(tǒng)收錄。該雜志發(fā)表了高質(zhì)量的論文,重點(diǎn)介紹了ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC在分析和實(shí)踐中的理論、研究和應(yīng)用。
?學(xué)術(shù)地位:在JCR分區(qū)中位列Q1區(qū),中科院分區(qū)為工程技術(shù)大類2區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類2區(qū)。
期刊發(fā)文分析
國(guó)家 / 地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
國(guó)家 / 地區(qū) | 發(fā)文量 |
CHINA MAINLAND | 696 |
Italy | 237 |
USA | 215 |
India | 144 |
England | 101 |
Canada | 92 |
GERMANY (FED REP GER) | 70 |
Spain | 53 |
South Korea | 47 |
Brazil | 38 |
期刊引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
IEEE SENS J | 265 |
IEEE T IND ELECTRON | 205 |
MEAS SCI TECHNOL | 203 |
SENSORS-BASEL | 177 |
IEEE T MICROW THEORY | 174 |
METROLOGIA | 167 |
IEEE T POWER DELIVER | 162 |
MEASUREMENT | 151 |
MECH SYST SIGNAL PR | 132 |
期刊被引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
期刊被引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
IEEE ACCESS | 940 |
SENSORS-BASEL | 761 |
IEEE SENS J | 555 |
MEASUREMENT | 390 |
ENERGIES | 245 |
APPL SCI-BASEL | 194 |
ELECTRONICS-SWITZ | 169 |
IEEE T IND ELECTRON | 149 |
MEAS SCI TECHNOL | 149 |
文章引用數(shù)據(jù)次數(shù)統(tǒng)計(jì)
文章引用數(shù)據(jù) | 引用次數(shù) |
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